产品特点

白光干涉测厚仪TF200-XNIR

产品特点

快速、准确、无损、灵活、易用、性价比高

应用案例

应用领域

半导体（SiO2/SiNx、光刻胶、MEMS，SOI等）     LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亚酰胺ITO等)           LED (SiO2、光刻胶ITO等）

触摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率测试等)                   汽车(防雾层、Hard Coating DLC等）                     医学（聚对二甲苯涂层球囊/导尿管壁厚药膜等）

技术参数

注：1.取决于材料0.4%或2nm之间取较大者。

2. 可选微光斑附件。