光学膜厚仪
光学薄膜厚仪Delta系列
仪器简介
Delta薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值
产品属性
- 产地：中国
- 品牌：贝拓科学
- 波长范围：900-1700nm
白光干涉薄膜厚度测量仪Delta
仪器简介
白光干涉薄膜厚度测量仪Delta利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。白光干涉薄膜厚度测量仪Delta根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。
产品属性
- 品牌：贝拓
- 产地：广东
- 波长范围：900-1700nm
- 厚度范围：10um-3mm
TF200光学膜厚仪
仪器简介
TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理，对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面，探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光，用反复校准的算法快速反演计算出薄膜的厚度。测量范围1nm-3mm，可同时完成多层膜厚的测试。对于100nm以上的薄膜，还可以测量n和k值。
产品属性
- 品牌：Betop
- 型号：TF200
- 产地：中国
- 价格：面议