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日立 手持式XRF光谱仪 X-MET8000系列

X-MET8000系列手持式X射线荧光(HHXRF)分析仪具备进行快速合金牌号识别并对各种材料(固体和金属粉末、聚合物、木材、溶液、土壤、矿石、矿物等)进行精确化学分析的性能。X-MET手持式XRF分析仪实用且坚固,易于使用,可提供值得信任的结果。

 

产品特点:

  • 卓越性能

X-MET提供极好的轻元素 (镁、铝、硅、磷、硫、氯)分析,检测限度低,且可每天提供准确可靠结果。

通过灵活的基本参数法(FP)法进行分析,从而测试多种材料;或若需结果可追溯和高度准确,则使用实证校准。

  • 操作简单

大触摸屏和基于图标的用户界面,使用户只需要极少的培训便可开始操作。

  • 符合人体工学

X-MET轻便(仅1.5公斤)、简洁、平衡性好,可供长时间使用,而疲劳度最低。

  • 坚固耐用而拥有成本低

符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防尘的X-MET可供室内外使用。

其可选的防扎窗口膜可预防在粗糙表面上测量导致探测器损坏而出现的高昂维修费用。

  • 高级数据管理

完全灵活:可将多达100,000条结果保存在X-MET上,将报告输出到U盘或个人计算机,或自动将X-MET数据存储在LiveData云端。

 

比较型号

X-MET8000 Smart

X-MET8000 Optimum

X-MET8000 Expert

X射线管:40kV

X射线管:40kV or 50kV

X射线管:50kV

滤光片:单一

滤光片:6位滤光转换器

滤光片:6位滤光转换器

检测器:大面积 SDD

检测器:大面积 SDD

检测器:大面积 SDD

最高样本温度:400ºC

最高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选)

最高样本温度:100ºC 或通过 HERO™ 耐热窗户400ºC(可选)

符合 IP54 等级

符合 IP54 等级

符合 IP54 等级

Thick Kapton®窗口:保护以预防探测器的窗户损坏

可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护

可选窗口防护罩:预防检测器的窗口损坏进行保护

校准:基本参数法(FP)

校准:基本参数法 (包括轻元素分析)

校准方法:自动跳转的经验系数法(可进行追溯)

内置摄像头 (可选)

内置摄像头(可选)

内置摄像头

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小光班准直器(可选)

小光班准直器 (可选) 

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针对所有元素(从镁到铀)进行优先分析的六位滤光片

针对所有元素,从镁到铀,的优先分析的六位滤光片


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