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WITec alpha 300S扫描近场光学显微镜（SNOM）
产品特点
关键特性：
突破衍射极限的空间光学分辨率（横向约 60 nm)
独家专利的 SNOM 探针技术
在空气与液体中均可使用
包含多种原子力与光学显微镜模式
非破坏性、无需标记的超高分辨成像技术，基本不需要样品制备
可升级到关联的共聚焦拉曼成像和近场拉曼成像
集成三种技术到一台仪器上：共聚焦显微镜, AFM 和 SNOM
技术参数
近场光学显微镜分辨率:50nm
共聚焦拉曼显微镜分辨率：200nm
扫描台扫描范围：100*100*20μm
探测器：光电倍增管（PMT）或雪崩二极管（APD）
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