椭圆偏振光谱仪-代理产品-代理产品-广州贝拓科学技术有限公司

使用显微光谱法在微小区域内通过绝对反射率进行测量，可进行高精度膜厚度/光学常数分析。

在高精度薄膜分析的光谱椭偏仪之上，增加安装了测量角度可自动变化装置,可对应所有种类的薄膜。在传统旋转分析仪法之上，通过安装相位差板自动分离装置，提高了测量精度。

SE-Mapping光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，采用行业前沿**技术，配置全自动Mapping测量模块，通过椭偏参数、透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。

ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的投入，其采用行业的创新技术，具备：1.全穆勒矩阵测量技术，2.双旋转补偿器同步控制技术，3.超级消色差补偿器设计技术，4.纳米光栅表征测量技术等技术。

SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪，紧凑集成设计，使用简便，可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。

SE-VM 是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可通过椭偏参数、透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。