椭圆偏振光谱仪
OPTM series 显微分光膜厚仪
仪器简介
使用显微光谱法在微小区域内通过绝对反射率进行测量,可进行高精度膜厚度/光学常数分析。
产品属性
- 品牌:大塚电子
- 型号:OPTM series
- 产品:日本
- 价格:面议
FE-5000椭圆偏振光谱仪
仪器简介
在高精度薄膜分析的光谱椭偏仪之上,增加安装了测量角度可自动变化装置,可对应所有种类的薄膜。在传统旋转分析仪法之上,通过安装相位差板自动分离装置,提高了测量精度。
产品属性
- 品牌:大塚电子
- 型号:FE-5000
- 产品:日本
- 价格:面议
SE-Mapping 光谱椭偏仪
仪器简介
SE-Mapping光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪,采用行业前沿**技术,配置全自动Mapping测量模块,通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。
产品属性
- 品牌:颐光科技
- 型号:SE-Mapping
- 产品:中国
- 价格:面议
ME-L全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪
仪器简介
ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪,凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的投入,其采用行业的创新技术,具备:1.全穆勒矩阵测量技术,2.双旋转补偿器同步控制技术,3.超级消色差补偿器设计技术,4.纳米光栅表征测量技术等技术。
产品属性
- 品牌:颐光科技
- 型号:ME-L
- 产品:中国
- 价格:面议
SE-VE光谱椭偏仪
仪器简介
SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪,紧凑集成设计,使用简便,可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。
产品属性
- 品牌:颐光科技
- 型号:SE-VE
- 产品:中国
- 价格:面议
SE-VM光谱椭偏仪
仪器简介
SE-VM 是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量,快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析,适用于薄膜材料的快速测量表征。
产品属性
- 品牌:颐光科技
- 型号:SE-VM
- 产品:中国
- 价格:面议