克吕士MSA 便携式接触角测量仪
仪器简介
MSA是一台功能强大的仪器，用于预处理，涂覆或清洁的表面的质量控制：MSA 便携式接触角测量仪通过表面自由能的自动且快速的方式测量润湿性。 只需单击一下，MSA即可同步滴加两种液体，然后直接分析推导接触角和表面自由的结果。
产品属性
- 品牌：克吕士/kruss
- 型号：MSA
- 产地：德国
- 价格：面议
布鲁克DektakXT 探针式表面轮廓仪
仪器简介
布鲁克 DektakXT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供更高的重复性和分辨率。台阶仪这项性能的提高达到了过去四十年Dektak技术创新的顶峰，更加巩固了其行业领先地位。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：DektakXT
- 产地：德国
- 价格：面议
布鲁克Contour Elite I 三维光学显微镜
仪器简介
布鲁克Contour Elite I台式电子轮廓仪是同类产品中的第一款，并配备有倾斜测量头，可提供无限量规处理，按请求测量的可靠性以及研发和制造环境。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：Contour Elite I
- 产地：德国
- 价格：面议
布鲁克ContourGT-I 三维光学显微镜
仪器简介
ContourGT-I 三维光学显微镜集三十年表面测量之大成，将创新与工业界合作的经验集合到一台桌面型系统上，实现面向生产自动化需要，测量角度灵活，的成像质量，和已经验证的可定标的稳定测试性能。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：ContourGT-I
- 产地：德国
- 价格：面议
布鲁克Contour Elite K 三维光学显微镜
仪器简介
Contour Elite K 三维光学显微镜具有高稳定性，具备一定防震性能设计的桌面式型号。布鲁克Contour Elite™三维光学显微镜在已经业界广泛使用的技术领先的平台上，进一步增强Vision64®软件的用户易用性，创新性加入全新的成像软硬件，拓展高保真成像能力。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：Contour Elite K
- 产地：德国
- 价格：面议
布鲁克ContourGT-K 三维光学显微镜
仪器简介
ContourGT-K三维光学显微镜完善了表面测量和分析的新标准，这套测量系统拥有工业领先的测量性能和灵活性，采用专利白光干涉技术，超大视野内埃级至毫米级的垂直计量范围，具有业界最高的垂直分辨率和测量重复性。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：ContourGT-K
- 产地：德国
- 价格：面议
赛默飞Phenom Pure 高性价比台式扫描电镜
仪器简介
Phenom Pure是一款使用高亮度CeB6灯丝的高性价比台式扫描电镜。观察亚微米尺度样品的微观结构，放大倍数要求在30000倍以下，您可以选择Phenom Pure,他具有飞纳系列全自动操作、15秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、2-3年更换灯丝等特点，适用于传统大电镜待测样品的快速筛选，也适用于光学显微镜的分辨率无法满足需求的客户。
产品属性
- 品牌：赛默飞
- 型号：Phenom Pure
- 价格：面议
- 产地：美国
赛默飞Phenom Pharos飞纳台式场发射扫描电镜
仪器简介
秉承飞纳台式电镜系列全自动操作、快速成像、不喷金观看绝缘体、完全防震、性能稳定的特点，经过精心的设计，台式扫描电镜领军制造商荷兰 Phenom-World 公司推出了台式场发射扫描电镜 Phenom Pharos，将台式电镜的分辨率提升至优于 2.2nm。
产品属性
- 品牌：赛默飞
- 型号：Phenom Pharos
- 价格：面议
- 产地：美国
赛默飞Verios XHR 扫描电子显微镜
仪器简介
Verios 是XHR（极高分辨率）SEM 系列的第二代产品。在尖端半导体制造和材料科学应用中，它可在 1 至 30 kV 范围内提供亚纳米量级分辨率以及增强的对比度，满足材料精密测量所需，同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。
产品属性
- 品牌：赛默飞
- 型号：Verios XHR
- 价格：面议
- 产地：美国
赛默飞Apreo 扫描电子显微镜
仪器简介
Apreo 革命性的复合透镜设计结合了静电和磁浸没技术，可产生前所未有的高分辨率和信号选择。这使得 Apreo 成为研究纳米颗粒、催化剂、粉末和纳米器件的理想平台，并且不会降低磁性样品性能。
产品属性
- 品牌：赛默飞
- 型号：Apreo
- 价格：面议
- 产地：美国