SE-Mapping 光谱椭偏仪
仪器简介
SE-Mapping光谱椭偏仪是一款可定制化Mapping绘制化测量光谱椭偏仪，采用行业前沿**技术，配置全自动Mapping测量模块，通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现薄膜全基片膜厚以及光学参数自定义绘制化测量表征分析。
产品属性
- 品牌：颐光科技
- 型号：SE-Mapping
- 产品：中国
- 价格：面议
ME-L全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪
仪器简介
ME-L 是一款科研级全自动高精度穆勒矩阵型椭偏仪，凝聚了颐光科研团队在椭偏技术多年的投入，其采用行业的创新技术，具备：1.全穆勒矩阵测量技术，2.双旋转补偿器同步控制技术，3.超级消色差补偿器设计技术，4.纳米光栅表征测量技术等技术。
产品属性
- 品牌：颐光科技
- 型号：ME-L
- 产品：中国
- 价格：面议
SE-VE光谱椭偏仪
仪器简介
SE-VE 是一款超高性价比、快速测量光谱椭偏仪，紧凑集成设计，使用简便，可一键快速测量表征各式光学薄膜膜厚以及光学常数等信息。
产品属性
- 品牌：颐光科技
- 型号：SE-VE
- 产品：中国
- 价格：面议
SE-VM光谱椭偏仪
仪器简介
SE-VM 是一款高精度快速测量光谱椭偏仪。可通过椭偏参数、 透射/反射率等参数的测量，快速实现光学参数薄膜和纳米结构的表征分析，适用于薄膜材料的快速测量表征。
产品属性
- 品牌：颐光科技
- 型号：SE-VM
- 产品：中国
- 价格：面议
布鲁克PI 95透射电镜专用原位纳米力学系统
仪器简介
布鲁克PI 95是TEM专用的多用途、高灵敏度热学、电学和力学的测试系统，在TEM上检测时，直接观察检测过程，使用侧面进样支架，不仅可以实现纳米尺度材料的成像观察，还可以同时进行加热和通电测试，并同步得到材料的力学数据，通过视频接口可以将材料的力学数据（载荷位移曲线）与相应TEM视频之间实现时间同步。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：PI 95
- 产地：德国
- 价格：面议
布鲁克PI 88 扫描电镜原位纳米力学测试系统
仪器简介
PI 88安装于扫描电镜中，可以精确施加载荷，检测位移，在电镜下做压痕、拉伸、弯曲、压缩测试；可以借助扫描电镜的的高分辨率，观测并记录整个材料测试过程，观测材料在力下发生的动态变化，如金属蠕变、相变、断裂起始等。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：PI 88
- 产地：德国
- 价格：面议
布鲁克NanoForce 纳米机械性能测试系统
仪器简介
布鲁克NanoForce™ 纳米机械性能测试系统提供最新的纳米机械性能表征技术，非凡的纳米机械性能测量精度和原子力显微镜成像，为纳米材料研究提供有力的支持。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：NanoForce
- 产地：德国
- 价格：面议
布鲁克TI 980 TriboIndenter高精度纳米力学测试系统
仪器简介
布鲁克的海思创TI 980 Tribondenter同时具有最高的性能、灵活性、可信度、实用性和速度。基于海思创几十年的技术创新，它为纳米力学表征带来了更高水平的性能、功能和易用性。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：TI 980
- 产地：德国
- 价格：面议
布鲁克TI 950 TriboIndenter高精度纳米力学测试系统
仪器简介
TI 950 TriboIndenter纳米压痕仪是布鲁克一台用于多种纳米力学和纳米摩擦学表征的自动化、高通量测试设备。海思创TI 950纳米压痕仪集成了强大的Preformech® I先进控制模块，显着提高了纳米力学测试反馈控制的准确度，提供了空前的低噪音水平。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：TI 950
- 产地：德国
- 价格：面议
布鲁克TI Premier 高精度纳米力学测试系统
仪器简介
TI Premier 系列产品是一款依托于紧凑型实验平台，实现定量化及高精度纳米力学表征的测试系统。基于Hysitron成熟的技术，能够为您纳米力学及摩擦磨损检测实验提供整体解决方案。
产品属性
- 品牌：布鲁克
- 型号：TI Premier
- 产地：德国
- 价格：面议